產(chǎn)品分類
Product CategoryKOSAKA小坂粗糙度測量儀PU-C
KOSAKA小坂粗糙度測量儀PU-C是日本小坂研究所(KOSAKA)推出的旗艦級便攜式表面粗糙度檢測設(shè)備,專為精密制造、半導體、汽車零部件及科研領(lǐng)域設(shè)計。該儀器采用模塊化觸針傳感器設(shè)計,支持快速更換探針,適應(yīng)深孔、細孔及復(fù)雜曲面測量需求,其核心優(yōu)勢在于將測量精度與操作便捷性結(jié)合,成為微觀形貌檢測工具。
?模塊化傳感器設(shè)計?
PU-C采用可插拔式觸針傳感器,用戶可根據(jù)工件特征(如孔徑、曲率)選擇不同規(guī)格探針,無需返廠校準。例如,針對6mm細孔測量,可搭配極細檢出器實現(xiàn)61mm深度檢測,而傳統(tǒng)設(shè)備需定制專用夾具。
?高精度直動式測量系統(tǒng)?
傳感器采用直動式差動變壓器原理,消除傳統(tǒng)杠桿結(jié)構(gòu)帶來的機械誤差。在Ra=3μm標準工況下,重復(fù)性誤差≤±3%,可識別0.025nm級表面起伏,滿足半導體晶圓、光學鏡片等超精密表面的檢測需求。
?智能環(huán)境適應(yīng)性?
內(nèi)置溫度補償與振動抑制算法,在車間振動或溫濕度波動環(huán)境下仍能保持數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。配備彩色CCD定位系統(tǒng),支持320倍放大實時觀察測量區(qū)域,避免誤觸。
?全場景兼容性?
支持ISO、JIS、DIN等12種國際標準,可同時輸出Ra、Rz、Rq等32個參數(shù)。其輕量化設(shè)計(整機重量≤1.2kg)配合磁吸底座,可快速部署于機床、流水線或?qū)嶒炇摇?/p>
?半導體制造?
檢測晶圓切割后的邊緣毛刺,識別0.1μm級崩糙度測量儀邊缺陷,提升芯片良率。
?汽車發(fā)動機?
測量缸體珩磨后的交叉網(wǎng)紋粗糙度,優(yōu)化燃油密封性,降低機油消耗。
?醫(yī)療器械?
評估人工關(guān)節(jié)表面的Ra值,確保植入物與骨骼的生物相容性。
?科研領(lǐng)域?
在材料表面改性研究中,量化激光拋光后的納米級波紋度變化。
?探針選擇?:根據(jù)工件材質(zhì)(金屬/陶瓷/高分子)匹配測定力,避免劃傷表面。
?定位校準?:使用CCD系統(tǒng)定位測量區(qū)域,啟動自動調(diào)平功能。
?數(shù)據(jù)采集?:一鍵啟動測量,系統(tǒng)自動過濾環(huán)境噪聲,生成輪廓曲線。
?報告生成?:通過配套軟件導出PDF報告,包含ISO標準參數(shù)與3D形貌圖。
相較于競品,PU-C在三個維度實現(xiàn)突破:
?精度?:直動式傳感器較杠桿式精度提升40%
?效率?:模塊化設(shè)計使探針更換時間從15分鐘縮短至30秒
?成本?:通過智能校準延長傳感器壽命,降低年均維護費用30%
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